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                      濕法微量激光粒度儀

                      簡要描述:TS-W系列 濕法微量激光粒度儀在實驗室的實驗研究和工業生產的質量控制等諸多領域中得到廣泛應用,內置工業電腦,無需外接輸出設備,測試方便;更換測量池可實現不同測試方式。

                      • 產品型號:TS-W系列
                      • 廠商性質:生產廠家
                      • 更新時間:2022-03-22
                      • 訪  問  量:1124

                      詳細介紹

                      品牌INNUO/盈諾分辨率0.01微米
                      測量范圍0.01-200、0.1-400、0.1-600、0.1-1000微米重現性< 1%
                      分散方式濕法分散價格區間面議
                      儀器種類靜態光散射產地類別國產

                      TS-W系列 濕法激光粒度儀?

                      應用范圍:

                              濕法微量激光粒度儀廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀物料。

                      符合但不局限于以下國標:

                             ISO 13320-2009    G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

                      濕法微量激光粒度儀技術特點:

                      1.獨特的半導體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源,波長短、體積小、工作穩定、壽命長;

                      2.獨特設計大直徑光靶,保證測量范圍大,0.1-1000微米全測量范圍內不需要更換鏡頭或移動樣品池;

                      3.集多年研究之成果,米氏理論的*應用;

                      4.獨特反演算法,保證顆粒測量的準確;

                      5.USB接口,儀器與計算機一體化,避免設備電腦兼容性問題、連接問題。

                      6.樣品池模塊化設計,更換模塊可實現不同的測試模式;循環樣品池內置超聲分散裝置,可有效分散團聚顆粒

                      7.軟件個性化,提供測量向導等眾多功能,方便用戶操作;

                      8測量結果輸出數據豐富,保存在數據庫中,能用任意參數,如操作者姓名,樣品名,日期,時間等進行調用分析,與其他軟件實現數據共享;

                      9.儀器造型美觀,體積小重量輕;

                      10.測量精度高,重復性好,測量時間短;

                      11.軟件提供眾多物質折射率供用戶選擇,滿足用戶查找被測顆粒折射率要求;

                      12.考慮到測試結果的保密要求,只有授權操作者才能進入相應數據庫讀取數據和處理;

                      13.內嵌10.8寸工業級別的電腦,WIN 10系統,30GB硬盤容量、2GB系統內存,可連接鍵盤、鼠標、U盤

                      14.本儀器符合但并不局限于以下標準:

                         ISO 13320-2009     G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

                      技術參數

                      型號

                      TS-W1

                      TS-W2

                      TS-W3

                      TS-W4

                      理論依據

                      Mie散射理論

                      粒徑測量范圍

                      0.1-200um

                      0.1-400um

                      0.1-600um

                      0.1-1000um

                      光源

                      半導體制冷恒溫控制紅光固體激光光源,波長635nm

                      重復性誤差

                      <1%(標準D50偏差)

                      測量誤差

                      <1%(標準D50偏差,用國家標準顆粒檢驗)

                      檢測器

                      32或48通道硅光電二極管

                      樣品池

                      固定樣品池、循環樣品池(內置超聲分散裝置)

                      測量分析時間

                      正常條件下小于1分鐘(從開始測量到顯示分析結果)

                      輸出內容

                      體積、數量微分分布和累積分布表和圖表;多種統計平均直徑;操作者信息;實驗樣品信息、分散介質信息等。

                      顯示方式

                      內嵌10.8寸工業級別的電腦,可連接鍵盤、鼠標、U盤

                      電腦系統

                      WIN 10系統,30GB硬盤容量、2GB系統內存

                      電源

                      220V,50 Hz

                       

                       

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